目次

• 1. 共振回路の特性測定
  • 1.1 目的
  • 1.2 原理
    • 1.2.1 共振回路
    • 1.2.2 Q値の測定方法
  • 1.3 実験方法
    • 1.3.1 手順
    • 1.3.2 注意事項
  • 1.4 結果
  • 1.5 考察課題
  
  
• 2. LCR回路の過渡応答
  • 2.1 目的
  • 2.2 原理
    • 2.2.1 CR回路
    • 2.2.2 LR回路
    • 2.2.3 LCR回路
  • 2.3 実験方法
    • 2.3.1 測定器
    • 2.3.2 CR回路の過渡応答
    • 2.3.3 LR回路の過渡応答
    • 2.3.4 LCR回路の過渡応答
  • 2.4 結果
  • 2.5 考察課題
  
  
• 3. CR回路の周波数応答
  • 3.1 目的
  • 3.2 原理
  • 3.3 実験方法
    • 3.3.1 周波数応答
    • 3.3.2 時間応答
  • 3.4 結果
    • 3.4.1 周波数応答
    • 3.4.2 周波数応答
  • 3.5 考察課題
  
  
• 4. トランジスタの静特性の測定
  • 4.1 目的
  • 4.2 原理
    • 4.2.1 真性半導体
    • 4.2.2 不純物半導体
  • 4.3 実験方法
    • 4.3.1 測定回路および注意事項
    • 4.3.2 V-I特性 およびV-V特性測定
    • 4.3.3 I-V特性 およびI-I特性測定
  • 4.4 結果
  • 4.5 考察課題
  
  
• 5. 基本論理回路
  • 5.1 目的
  • 5.2 原理
    • 5.2.1 ブール代数の公理
    • 5.2.2 ブール代数の諸定理
    • 5.2.3 真理値表とMIL記号
  • 5.3 実験方法
    • 5.3.1 基本動作実験
    • 5.3.2 論理式実験
    • 5.3.3 応用実験
  • 5.4 考察課題
  
  
• A. 微分方程式
  • A.1 一階線型常微分方程式
  • A.2 二階線型常微分方程式
  
  
• 参考文献

ホームページ: Yamamoto's laboratory
著者: 山本昌志